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產品簡介：芯片模組低溫測試箱是一種專門用于對芯片模組進行低溫環境測試的設備。它提供了控制溫度和濕度的功能，使得芯片模組可以在惡劣的低溫條件下進行測試和評估。產品用途：芯片模組低溫測試箱可以為芯片的可靠...
芯片模組在封測階段需要做各種可靠性測試，其中一項就是低溫測試，例如EIAJ ED-4701/200:2001 半導體器件的環境和耐久性試驗方法（壽命試驗 II）和JESD22-A119A 低溫存儲壽命...
芯片模組低溫測試箱用于產品的低溫測試，下面是“環儀儀器”整理出的一些設計到芯片模組低溫測試的標準和要求，供各位參考。試驗名稱：芯片模組做低溫測試試驗設備：環儀儀器 低溫測試箱試驗條件：1. EIAJ ...
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