光電子器件包括光探測器、激光器等，應(yīng)用在非常廣泛的領(lǐng)域。由于不同器件應(yīng)用的環(huán)境溫度范圍不同，因而對(duì)電器件在不同溫度下的各種光電參數(shù)有不同的要求。所以在器件的制備和檢測過程中，就需要在光電器件高低溫操作生命期試驗(yàn)箱的工作范圍內(nèi)測定其各項(xiàng)光電參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

技術(shù)特點(diǎn)：

1.光電器件高低溫操作生命期試驗(yàn)箱簡單實(shí)用，同時(shí)測試精確度非常高，用途廣泛，除了用于光電器件，也可以用于半導(dǎo)體材料的光學(xué)參數(shù)在液氮以上溫度的測試。

2.另外，在特殊高低溫條件下對(duì)光電器件進(jìn)行測試，解決了空氣環(huán)境中過低溫度下光窗口結(jié)霜等問題，并且高低溫可以在同一裝置中測試，高低溫測試結(jié)果之間具有相同的測試條件，所以具有可比性，減小了測試的復(fù)雜程度。

3.可選擇以液氮作為冷媒降溫，并通過控制電壓控制加熱部件升溫，實(shí)現(xiàn)室溫-接近80K-室溫的溫度反復(fù)循環(huán)，滿足光電器件溫度循環(huán)的需求。

4.可以根據(jù)實(shí)際要求設(shè)計(jì)內(nèi)膽低導(dǎo)熱層的厚度，以控制降溫速率從而控制降溫時(shí)間；通過電壓控制加熱部件的電熱元件以調(diào)節(jié)升溫速率，控制升溫時(shí)間，從而能夠模擬實(shí)際使用狀態(tài)，按實(shí)際應(yīng)用要求進(jìn)行模擬試驗(yàn)。

5.升、降溫變化速率可以通過測溫元件實(shí)時(shí)監(jiān)測。

如有光電器件高低溫操作生命期試驗(yàn)箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。