高低溫沖擊測試系統(tǒng)用于組件的溫度測試，例如汽車零件，傳感器，光纖收發(fā)器，微波設(shè)備，MCM，PCB，以及所有類型的電子/非電子零件和其他測試物品。設(shè)備可調(diào)溫度-80℃~+225℃，準確地定位于需要進行熱沖擊和溫度循環(huán)測試的冷熱區(qū)域。

技術(shù)參數(shù)：

技術(shù)優(yōu)勢：

在芯片可靠性測試方面，高低溫沖擊測試系統(tǒng)有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨特優(yōu)勢: 變溫速率快，實時監(jiān)測待測元件真實溫度，亦可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度，可針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC，單獨進行測試，而不影響周邊其它器件。

功能特點：

1.低能耗設(shè)計, 待機時自動節(jié)省電力。

2.干燥的空氣吹掃功能, 防止水汽在測試表面凝結(jié)。

3.通過內(nèi)部制冷機自動除霜, 快速清除高低溫測試機內(nèi)部積聚的水汽。

4.觸摸屏操作界面，顯示實時溫度變化。

5.通訊接口RS485、USB, 支持測試數(shù)據(jù)存儲和導出，可選配其他數(shù)據(jù)接口。

使用方法：

1.將被測芯片或模塊放置在測試腔中，將熱流罩壓在測試腔位置。

2.設(shè)置需要測試的溫度范圍。

3.啟動設(shè)備，利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入高低溫測試機內(nèi)部制冷機進行低溫處理， 然后空氣經(jīng)由管路到達加熱頭進行升溫，氣流通過熱流罩進入測試腔。熱流罩中的溫度傳感器可實時監(jiān)測當前腔體內(nèi)溫度。

4. 在芯片測試平臺下，設(shè)備快速升降溫至要求的設(shè)定溫度，實時檢測芯片在設(shè)定溫度下的工作狀態(tài)，對于產(chǎn)品分析，工藝改進以及定向品質(zhì)追溯提供確實的數(shù)據(jù)依據(jù)。

如有高低溫沖擊測試系統(tǒng)的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。