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eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體
很多光電器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴(yán)重。針對電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化
針對光電產(chǎn)品開展高低溫循環(huán)試驗(yàn)。試驗(yàn)過程中每間隔一定的循環(huán)次數(shù)，對器件進(jìn)行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數(shù)的測試和分析。高低溫循環(huán)試驗(yàn)需確定以下試驗(yàn)參數(shù)
光電子器件包括光探測器、激光器等，應(yīng)用在非常廣泛的領(lǐng)域。由于不同器件應(yīng)用的環(huán)境溫度范圍不同，因而對電器件在不同溫度下的各種光電參數(shù)有不同的要求。所以在器件的制備
超聲波燃?xì)獗砟透叩蜏刭A存試驗(yàn)箱是按照標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 39841-2021 超聲波燃?xì)獗怼芬笤O(shè)計的，超聲波燃?xì)獗砟透叩蜏刭A存試驗(yàn)箱是一種用于測試超聲波燃?xì)獗碓跇O
電梯IC卡裝置高低溫試驗(yàn)箱是按照標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 39679-2020 電梯IC卡裝置》要求設(shè)計的，電梯IC卡裝置高低溫試驗(yàn)箱是一種專門用于測試電梯IC卡裝置在極
熱量表高低溫試驗(yàn)箱是按照標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 32224-2020 熱量表》要求設(shè)計的，熱量表高低溫試驗(yàn)箱是一種專門用于測試和評估熱量表在不同溫度條件下性能的設(shè)備。該
水表高低溫試驗(yàn)箱是按照標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 778.2-2018 飲用冷水水表和熱水水表 第2部分：試驗(yàn)方法》要求設(shè)計的，水表高低溫試驗(yàn)箱是一種用于測試水表在高溫和低
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